技术指标及功能简介：HL5500+HL5580+HL5550+HL5590，温度变化范围从90K到600℃，最大测量方块电阻为1011Ω/口，最小测试电流为1pA。主要用于薄膜半导体材料的Hall测量，直流范围从1pA到20mA，也可采用交流模式（交流模式下不能测量高阻样品）。方块电阻测量最大值为1011Ω/□，同时可进行变温测量，测量温度范围为室温～600℃。测量图形可采用范得堡法、Hall Bar或者Hall桥。测量过程由微机控制，测量结束后自动给出测量以及计算结果。

主要研究方向：宽禁带半导体材料物理和器件物理（主要是宽禁带半导体输运性质和缺陷物理研究）。