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霍尔效应测试仪
| 仪器设备名称:霍尔效应测试仪 | 仪器设备分类编号:201113729 |
| 仪器设备厂商及型号:Nanmentrics Incorporated；HL5500 | 购置时间:2011年09月 |
| 国别:美国 |
技术指标：电阻率测试范围：0.1mΩ/sq--1MΩ/sq，载流子浓度：10↑6--10↑21cm↑-3/vs，载流子迁移率1-10↑7cm↑2/vs，AC/DC两种测量模式，电流输出范围100nA--19.9mA，磁场强度0.5T±1%，样品用探针接触，最大样品尺度10mm×10mm。温度范围90--500k。
功能特色：用于测量半导体材料的掺杂级别和类型，载流子浓度，载流子迁移率和电阻率，研究和表征半导体材料的特性。