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电子探针
仪器设备名称:电子探针 | 仪器设备分类编号: |
仪器设备厂商及型号:JEOL JXA-8100 | 购置时间:2001年10月 |
国别:日本 |
技术指标及功能简介:二次电子分辨率6nm,分析元素范围B-U,波谱通道数4CH,加速电压范围0.2-30 kv,探针电流范围10-12-10-5A,束流稳定性±0.5×10-3/h。。
1.主要功能:二次电子像、反射电子像、X射线像、定性分析、定量分析、线分析、面分析。
2.分析特点:电子探针X射线显微分析它能以高的空间分辨率(二次电子分辨率10 nm),可以实现同时获得测量区的微区形貌图像和相应的成分像,以及其构成元素的定性,定量分析;使对样品所含元素的分析与其形态对应起来。因此,电子探针X射线显微分析仪所能做到的是在不破坏样品原结构,直观,快捷,纳米级范围;如对显微组织,显微物相,显微杂质等一系列显微微区形貌与成分定性,定量分析。
主要研究方向:变质地质学、成因矿物学、造山带及其演化。