技术指标：Autoprobe CP Multitask SystemSTM的原子分辨率，AFM的原子分辨率，光学显微镜最高放大倍数3500X。主要用于研究材料的表面、界面特性、磁畴特征、静电力特征以及复合材料的侧向特征，也能用于材料分析及进行纳米刻蚀技术等方面的研究工作。

功能特色：主要用于研究材料的表面、界面特性、磁畴特征、静电力特征以及复合材料的侧向特征，也能用于材料分析及进行纳米刻蚀技术等方面的研究工作。