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变温扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:变温扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:9803381 |
| 仪器设备厂商及型号:OMICRON VAKUUMPHYSIK；STM/AFA | 购置时间:1998年5月 |
| 国别:德国 |
技术指标及功能简介
STM/AFM：原子 分辨率；超高真空：<3X10^-10mber；变温：Tmin<35K，Tmax>800℃。
主要研究方向：表面原子和电子结构分析，纳米材料结构和电学特性，表面吸附等。
在研或曾承担重大项目
承担完成自然科学基金项目：
“硅高指数面上纳米线和纳米点结构研究”
“巴基葱电学特性及其应用于单电子器件的研究”
“金属富勒烯的结构和电学特性及其应用于纳电子器件的研究”