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扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:200201513 |
| 仪器设备厂商及型号:DI；DiNanoscopeⅢa | 购置时间:2001年11月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能特色：10 μm×10 μm；110 μm×110 μm；极限分辨率RT-250℃。用于研究高分子及其他样品的表面形貌。附有加热样品台（室温至200度）。
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:200201513 |
| 仪器设备厂商及型号:DI；DiNanoscopeⅢa | 购置时间:2001年11月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能特色：10 μm×10 μm；110 μm×110 μm；极限分辨率RT-250℃。用于研究高分子及其他样品的表面形貌。附有加热样品台（室温至200度）。