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扫描探针显微镜
仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:200303531 |
仪器设备厂商及型号:DI;NanoⅢa | 购置时间:2002年03月 |
国别:美国 |
技术指标及功能:0.1 A/1 A ,28-25℃。用于气-液相STM/AFM检测原子分辨的固体表面结构。具有接触式、敲击式等工作模式。样品可以连续加热到250℃(从室温开始),也可以小幅度降温。可以用于材料、电化学及生物体系中纳米尺度的表面形貌、表面光滑特性的表征。
仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:200303531 |
仪器设备厂商及型号:DI;NanoⅢa | 购置时间:2002年03月 |
国别:美国 |
技术指标及功能:0.1 A/1 A ,28-25℃。用于气-液相STM/AFM检测原子分辨的固体表面结构。具有接触式、敲击式等工作模式。样品可以连续加热到250℃(从室温开始),也可以小幅度降温。可以用于材料、电化学及生物体系中纳米尺度的表面形貌、表面光滑特性的表征。