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扫描探针显微镜
仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:200303532 |
仪器设备厂商及型号:精工仪器;SPI3800N,SPA-400 | 购置时间:2003年03月 |
国别:日本 |
技术指标及功能特色:AFM可成原子像。可在大气、液体环境下具备进行Contant Mode或Tapping Mode成像等功能,最大扫描范围XY:100微米,Z:15微米,水平分辨率:0.1nm,纵向分辨率:0.01nm,STM成像具有原子级分辨率。可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究。