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扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0602855 |
| 仪器设备厂商及型号:VeecoInstrueA；NanornanⅡ+Multirnoc | 购置时间:2005年9月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介：扫描范围90μm（3100），10μm（Multirocle）。是目前世界上精度和稳定性最好的AFM,可以广泛的用于纳米结构的表征和一些纳米器件电学性的测量。特别适合于测量需要精确定位的大尺寸样品的器件类试样.
主要研究方向：纳电子器件。
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0602855 |
| 仪器设备厂商及型号:VeecoInstrueA；NanornanⅡ+Multirnoc | 购置时间:2005年9月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介：扫描范围90μm（3100），10μm（Multirocle）。是目前世界上精度和稳定性最好的AFM,可以广泛的用于纳米结构的表征和一些纳米器件电学性的测量。特别适合于测量需要精确定位的大尺寸样品的器件类试样.
主要研究方向：纳电子器件。