技术指标及功能简介:该场发射电子显微镜配有能谱、能量损失谱、高角环形暗场探头、电子全息探头等附件，点分辨率0.205nm，线分辨率0.102nm，信息分辨率0.15nm，高角环形暗场像分辨率0.2nm，能谱能量分辨率130.8ev，能量损失谱能量分辨率0.8ev, 放大倍数51-1000000，能谱分析元素范围5B-92U。可以进行0.2 nm以上范围内的形貌、结构、电子态、元素成分分析等，广泛应用于物理学、化学、材料科学、地质学等领域样品的微观组织、结构、电子态、成分等的科学研究。

主要研究方向:电子显微学。

所获奖项或专利:2006年获北京市科学技术奖 一等奖；
获奖课题：纳米硅/氧化硅材料体系发光及其物理机制。