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场发射透射电子显微镜
仪器设备名称:场发射透射电子显微镜 | 仪器设备分类编号:2000001 |
仪器设备厂商及型号:FEI;Tecnai F20 | 购置时间:2009年10月 |
国别:美国 |
技术指标及功能简介
电子枪: 场发射FEG
加速电压:80-200kV;
点分辨率:0.24nm;线分辨率:0.102nm;信息分辨率:0.14nm;
放大倍数:25x-1050kx;
样品倾角范围:40°;
高灵敏度大尺寸CCD:2048×2048像素,16Bit。
该透射电镜配有自动可伸缩能谱,能量分辨率130eV,能谱分析元素范围5B-92U。
功能简介:该电镜可对各种材料进行各种常规电子显微结构表征,包括:形貌分析、衍射图分析、衍衬分析、元素成份分析等,广泛应用于物理学、化学、材料学、地质学等领域的科学研究。高灵敏度大尺寸CCD大幅度提高了高分辨像的图像质量;可调低加速电压可用于对比较容易产生电子辐照损伤的样品进行电子显微结构表征。
主要研究方向:电子显微学