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Tecnai G2 20透射电子显微镜
仪器设备名称:Tecnai G2 20透射电子显微镜 | 仪器设备分类编号:20000002 |
仪器设备厂商及型号:FEI;Tecnai G2 20 | 购置时间:2009年11月 |
国别:美国 |
技术指标及功能简介:该透射电子显微镜配有能谱附件,点分辨率0.27nm,线分辨率0.144nm,放大倍数18.5-620000,能谱分析元素范围5B-92U。可获取高分辨透射显微像、选区衍射像、微束衍射图像;进行能谱分析。可以对金属、矿物、半导体、超导体、化合物等固体材料进行显微形貌观察、电子衍射和化学成分分析。
主要研究方向:电子显微学。