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扫描近场光学显微镜
仪器设备名称:扫描近场光学显微镜 | 仪器设备分类编号:0402753 |
仪器设备厂商及型号:Omicron;TwinSNOM | 购置时间:2004年1月 |
国别:德国 |
技术指标及功能简介:x-y方向扫描范围100μm×100μm,精度1nm。z方向针尖样品间距采用切变力反馈控制,一般在10nm左右,针尖伸缩范围20μm,精度1nm。针尖x-y方向和z方向粗逼近采用惯性步进马达,移动范围5mm×3mm×10mm,单步移动距离在1μm以下。样品台可以在30mm×30mm大范围内移动。通过样品台逐点扫描,可以同时获得样品的形貌图和近场光学图,分辨率取决于近场光纤探针的孔径,一般为50-100nm。该近场光学显微镜系统,利用50 nm直径的光纤探针将激光引入局域,可探测纳米尺度的超微细结构的透射,反射变化及激光激发下的光特性变化。利用SNOM与飞秒激光相结合,还实现了高时空四维分辨显微测量。
主要研究方向:飞秒近场光谱学、介观光学、近场光学。