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扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0201513 |
| 仪器设备厂商及型号:DI仪器公司:DiNanoscopeⅢa | 购置时间:2001年11月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介:10μm×10μm；110μm×110μm；极限分辨率RT-250℃。用于研究高分子及其他样品的表面形貌。附有加热样品台（室温至200度）。
主要研究方向:高分子材料的凝聚态物理学，受限结晶行为等。
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0201513 |
| 仪器设备厂商及型号:DI仪器公司:DiNanoscopeⅢa | 购置时间:2001年11月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介:10μm×10μm；110μm×110μm；极限分辨率RT-250℃。用于研究高分子及其他样品的表面形貌。附有加热样品台（室温至200度）。
主要研究方向:高分子材料的凝聚态物理学，受限结晶行为等。