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扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0303532 |
| 仪器设备厂商及型号:日本精工仪器:SPI3800N，SPA-400 | 购置时间:2003年3月 |
| 国别:日本 |
技术指标及功能简介:AFM可成原子像。可在大气、液体环境下具备进行Contant Mode或Tapping Mode成像等功能，最大扫描范围XY：100微米，Z：15微米，水平分辨率：0.1nm，纵向分辨率：0.01nm，STM成像具有原子级分辨率。可对固体、薄膜及液体样品进行表面表征和性能研究。
主要研究方向:对固体、薄膜样品进行表面表征和性能研究