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扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:0805819 |
| 仪器设备厂商及型号:Veeco：Innova | 购置时间:2008年1月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介:测量模式：AFM，STM，MFM，EFM，力曲线/力谱测量，纳米刻蚀/加工功能，X、Y方向闭环回路控制，非线性<1%，扫描范围：5μm×5μm×2.5μm,90μm×μm×7.5μm闭环扫描管；样品尺寸：50mm×50mm×18mm，光学辅助观察系统：140-700倍自动变倍。
主要研究方向:主要用于材料表面力学、电学、磁学性质的基本表征，纳米刻蚀和加工，在纳米尺度上定位构建各种结构，如Dip-pen nanolithography（蘸笔刻蚀）