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变温扫描探针显微镜
| 仪器设备名称:变温扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:9803381 |
| 仪器设备厂商及型号:OMICRON VAKUUMPHYSIK：STM/AFA | 购置时间:1998年5月 |
| 国别:德国 |
技术指标及功能简介:STM/AFM：原子 分辨率；超高真空：<3X10^-10mber；变温：Tmin<35K，Tmax>800℃。
主要研究方向:表面原子和电子结构分析，纳米材料结构和电学特性，表面吸附等
| 仪器设备名称:变温扫描探针显微镜 | 仪器设备分类编号:9803381 |
| 仪器设备厂商及型号:OMICRON VAKUUMPHYSIK：STM/AFA | 购置时间:1998年5月 |
| 国别:德国 |