技术指标

仪器功率：3KW。X光光管(光源);中低温样品台可变稳区:室稳-350℃;点聚焦光路 ;GADDS二维探测器；探测器：二维探测器；样品台：高精度尤拉环；测角仪:可θ-θθ-2θ模式扫描，测量范围：-10～155；可读最小步长：0.0001；角度重现性：0.0001，微区最小测量范围：直径50μm。

功能特色：仪器功率：3KW。X光光管（光源）；中低温样品台可变温区：室温-250℃；点聚焦光路；探测器：GADDS Hi-Star二维探测器；样品台：XYZ测角头；测量范围：0.5～155；角度分辨率：0.02；测试重复精度：0.0001，微区最小测量范围：直径50μm。高分子结晶和液晶相转变及其他样品的二维衍射，单晶薄膜取向分析；纤维、薄膜、微量样品测试。在很多领域具有常规衍射仪无法比拟的优势，如高分子、应力分析、织构分析、微区等领域。采集的信息全面，解决了很多类型的样品，如高分子样品（一般有取向）、微区、微量样品、有颗粒效应样品、织构样品、单晶样品等由于其衍射锥（德拜环）不连贯，采用常规的粉末衍射仪（采用点或一维探测器）难以得到正确测量结果的问题。