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半导体特性测量仪
| 仪器设备名称:半导体特性测量仪 | 仪器设备分类编号:0210179 |
| 仪器设备厂商及型号:Keithley Instrument：4200 | 购置时间:2002年12月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介:电流测量精度20fA，分辨率100aA，电压测量精度124μV。
主要研究方向:纳米器件，纳米电子学，纳米结构的电子输运，分子电子学
| 仪器设备名称:半导体特性测量仪 | 仪器设备分类编号:0210179 |
| 仪器设备厂商及型号:Keithley Instrument：4200 | 购置时间:2002年12月 |
| 国别:美国 |