科学仪器设备
服务查询
半导体参数测量系统
| 仪器设备名称:半导体参数测量系统 | 仪器设备分类编号:201002191 |
| 仪器设备厂商及型号:安捷伦：4156C | 购置时间:2010年03月 |
| 国别:美国 |
最大测试电流：100mA，分辨率：0.01fA，测试范围：20Hz-2MHz。
半导体材料与结构测试，MOS、BJT等半导体器件与集成电路测试。
| 仪器设备名称:半导体参数测量系统 | 仪器设备分类编号:201002191 |
| 仪器设备厂商及型号:安捷伦：4156C | 购置时间:2010年03月 |
| 国别:美国 |
最大测试电流：100mA，分辨率：0.01fA，测试范围：20Hz-2MHz。
半导体材料与结构测试，MOS、BJT等半导体器件与集成电路测试。