科学仪器设备
服务查询
半导体特性测试系统
| 仪器设备名称:半导体特性测试系统 | 仪器设备分类编号:0408971 |
| 仪器设备厂商及型号:Lceithlay Instrument：4200-SCS/F | 购置时间:2004年10月 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介:分辨率0.1fA，数字源表1100V，该系统采用先进的前置放大技术，使电流解析能力达0.1fA，应用于光电功能材料及器件的表征。
主要研究方向:光电功能材料
| 仪器设备名称:半导体特性测试系统 | 仪器设备分类编号:0408971 |
| 仪器设备厂商及型号:Lceithlay Instrument：4200-SCS/F | 购置时间:2004年10月 |
| 国别:美国 |