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半导体参数测量系统
| 仪器设备名称:半导体参数测量系统 | 仪器设备分类编号:03190442 |
| 仪器设备厂商及型号:安捷伦/4156C | 购置时间:2011 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介：最大测试电流：100mA，分辨率：0.01fA，测试范围：20Hz-2MHz。
| 仪器设备名称:半导体参数测量系统 | 仪器设备分类编号:03190442 |
| 仪器设备厂商及型号:安捷伦/4156C | 购置时间:2011 |
| 国别:美国 |
技术指标及功能简介：最大测试电流：100mA，分辨率：0.01fA，测试范围：20Hz-2MHz。