2014年11月6日，信息学院拟购的“传输线脉冲/极快速传输线脉冲测试系统”购置可行性论证会在微纳电子大厦539会议室召开。会议由信息学院科研办公室主任孙琰主持，设备部设备管理办公室相关工作人员参加了会议。

“传输线脉冲/极快速传输线脉冲测试系统”由信息学院王源副教授申请购置，经费来源为“973”项目。传输线脉冲/极快速传输线脉冲测试系统能够通过对半导体器件或集成电路芯片施加上升速度极快、脉冲宽度很窄的快速脉冲来测试器件和电路的响应能力，进而达到考核器件和电路抗静电冲击能力的目的。其中，传输线脉冲测试对应了静电冲击测试中的人体模型（HBM）和机器模型（MM），极快速传输线脉冲测试对应了静电冲击测试中的带电器件模型（CDM），而抗HBM/MM/CDM型静电冲击能力是半导体器件和集成电路芯片可靠性的重要指标。拟购的“传输线脉冲/极快速传输线脉冲测试系统”可以表征器件和电路在静电冲击事件下的瞬态特性，并能实现可重复的无损测试，设备的各项功能指标先进，满足申请人的科研需要。目前我校尚无满足申请人技术需求的同类设备。专家组根据申请人课题组开展集成电路抗静电冲击特性、失效分析测试和优化设计等研究的需要，认为该设备是测试器件和电路抗HBM/MM/CDM型静电冲击能力的必要设备之一，将对北京大学在新型半导体器件和集成电路可靠性研究领域的发展起到积极的推动作用。

该仪器设备购置经费已落实，运行管理的经费、人员、场地有保障，专家组一致同意通过“传输线脉冲/极快速传输线脉冲测试系统”的可行性论证。设备购置后将在满足申请人课题组科研需要的同时对校内外开放使用，预计对申请人课题组之外的年开放共享机时为400小时左右。可行性论证专家组由中国科学院电子学研究所刘飞研究员，北京大学信息学院盖伟新研究员、陈中建教授、鲁文高副教授、张钢刚高级工程师组成。