分析测试百科网讯 2016年7月5日，北京大学7月份免费仪器分析课开讲，7月已经安排的课程有7月5日《电镜原理及分析测试技术》和7月8日《质谱原理及分析测试技术》，由北京大学老师为大家讲解分析测试仪器，参与者还有机会近距离现场观察大型分析仪器设备。

北京大学7月份免费仪器分析课《电镜原理及分析测试技术》授课现场

2016年7月5日，北京大学分析测试中心高级工程师鞠晶在北京大学化学楼中区多功能厅为我们带来了题为《电镜原理及分析测试技术》的报告，报告中对电镜基本原理，透射电镜功能、扫描电镜功能，以及北京大学电镜室进行了介绍。另外，在6月份培训课程经验的基础上，本次课程还同步开启了网络直播，让用户即使不到现场也能听课。

北京大学分析测试中心高级工程师 鞠晶

鞠晶介绍了电镜的基本原理、发展历史等信息。观察用仪器的发展史从光学显微镜到电子显微镜，观察尺寸大大缩小，其分辨率不断提高。电子显微镜又包括扫描电子显微镜和透射电子显微镜。

从原理来看，电子显微镜与光学显微镜有两个不同：光源不同，光学显微镜的光源是可见光，电子显微镜的光源是电子束；透镜不同，光学显微镜是光学透镜，电子显微镜的透镜是由电磁线圈构成。

电子显微镜与光学显微镜相比，分辨率提高了。显微镜的分辨率与波长成反比，而电子显微镜的波长与加速电压成反比，所以加速电压越高，波长越短，分辨率越高。

鞠晶对光学显微镜、X光衍射仪、电子显微镜的仪器特性进行了比较：

几种分析仪器比较

常规透射电镜得到物镜后焦面的衍射信息和物镜像平面的像信息。衍射信息可以确定晶体的结构、晶体的晶格常数、晶体学取向、晶体的对称性、晶体的点群和空间群等；像的信息可以得到物质的形貌、尺寸、分布情况、位向关系、惯习面、晶体缺陷、界面结构、原子的排列方式、原子结构像等。所以利用透射电镜的成像可以看到材料的形貌，明暗场像可以观察缺陷如位错、层错、孪晶、取向、相分布，观察晶体结构，直接看原子，STEM像、HAADF像以及STEM-EDS联用可以进行元素分布分析，原位测试，三维电子衍射技术。扫描电镜可以进行形貌观察，包括磁性样品、不导电样品、高分子聚合物、生物样品等，可以与SEM-EDS联用进行成分分布分析。

鞠晶还介绍了电镜样品前处理装置，超薄切片机，用于生物式样薄片的制备和比较软的无机材料超薄切片试样的制备，切片厚度1nm-15μm。北京大学分析测试中心电镜室有透射电镜、扫描电镜、超薄切片机装备齐全，其中有两台电镜加入了CMA认证系统。

7月8日，还有北京大学分析测试中心高级工程师周江讲述《质谱原理及分析测试技术》，敬请关注。

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活动背景介绍：

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